超聲波探傷儀如何檢測缺陷大小

利用超聲波探傷儀試塊繪出的距離-波幅-當量曲線（即實用AVG）來對缺陷定量是目前常用的定量方法之一。特別是3N以內(nèi)的缺陷，采用試塊比較法仍然是有效的定量方法。此外還可利用試塊來測量材料的聲速、衰減性能等。

餅形鍛件直探頭檢測方法
鍛件按其形狀不同可分為軸形鍛件、餅形鍛件、碗形鍛件和筒形鍛件．各種形狀鍛件的鍛造工藝都有不同的特點，餅形鍛件的鍛造工藝主要以鐓粗為主，超聲波探傷儀缺陷的分布主要平行于端面，所以用直探頭在任意一個端面進行探測是檢出這種缺陷的好方法，但與端面有較大角度的徑向缺陷則需要采用直探頭從外圓面進行檢測。

餅形鍛件通常采用手工面接接觸法進行檢測
(1)點狀單個小缺陷：缺陷波和底波共存，且底波變化不大。
(2)密集性小缺陷：在一定的面積或體積內(nèi)存在點狀缺陷的個數(shù)，JB/T4730.3—2005對密集區(qū)的定義是：在熒光屏掃描線相當丁50 mm聲程范圍內(nèi)同時有5個或5個以上的缺陷反射信號；或是在50mm×50 mm的檢測面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范同內(nèi)有5個或5個以上的缺陷反射信號。其反射波幅均大于某一特定當量缺陷基準反射波幅。
(3)平行于表面的面狀大缺陷：沒有底波，只有缺陷的多次反射波。
(4)與表面傾斜的面狀大缺陷：底波將明顯降低，也存在缺陷反射回波。